思考题 为何要求将试样研磨至2微米左右? 差谱分析时,为何将图谱坐标转换成吸光 度坐标? 差谱分析时,负峰的由来? 傅立叶红外光谱仪(FT-IR)与扫描型红外 分光光度计在原理和结构上的不同及其优 点是什么? 红外光谱能否进行定量分析?困难在哪?思考题 • 为何要求将试样研磨至2微米左右？ • 差谱分析时，为何将图谱坐标转换成吸光 度坐标？ • 差谱分析时，负峰的由来？ • 傅立叶红外光谱仪（FT-IR）与扫描型红外 分光光度计在原理和结构上的不同及其优 点是什么？ • 红外光谱能否进行定量分析？困难在哪？