X射线测定宏观应力的实验依据是物体中残余 应力会使晶面的行射线产生位移 了宏观残余应力测定方法还有:电阻应变片法、 机械引伸仪法、超声波法等。Ⅹ射线法与这些 方法相比,具有如下特点: 它是有效的无损检测方法; 它所测定的仅仅是弹性应变,而不含有范性应变 (范性变形不会引起衍射线位移); X射线照射面积可以小到1~2mm直径,因此它可测 定小区域的局部应力 只能得到表面应力,且精度受组织因素影响很大。 2021/2/22 AUZLP2021/2/22 HNU-ZLP 4 X射线测定宏观应力的实验依据是物体中残余 应力会使晶面的衍射线产生位移。 宏观残余应力测定方法还有：电阻应变片法、 机械引伸仪法、超声波法等。X射线法与这些 方法相比，具有如下特点： 它是有效的无损检测方法； 它所测定的仅仅是弹性应变，而不含有范性应变 （范性变形不会引起衍射线位移）； X射线照射面积可以小到1～2mm直径，因此它可测 定小区域的局部应力； 只能得到表面应力，且精度受组织因素影响很大