两大类可测性设计技术 ▣非结构化技术 (Unstructured techniques) ■专用可测性技术(Ad-hoc approaches) ■IDDQ测试 ▣结构化技术 (Structured techniques) ■Scan design >Full scan design >Partial scan design ■Boundary scan design ■BIST 2020/9/5 集成电路可测性设计 52020/9/5 集成电路可测性设计 5 两大类可测性设计技术  非结构化技术（Unstructured techniques）  专用可测性技术（Ad-hoc approaches）  IDDQ 测试  结构化技术（Structured techniques）  Scan design Full scan design Partial scan design  Boundary scan design  BIST