数据处理 电子元件伏安特性的研究数据处理 做据记录与数据处理 1.取待测电阻2509(Rx>100RA)内接 2.取待测电阻309(100Rx<R)外接 3.实验数据记录 要求原始数据为:量程x读刻度格数(格数估读一位) 满刻度格数 注:不确定度的结果保留一位有效数字,于计算不确定度有关的数字均保留两位有效数 字,测量结果按照不确定度的数字位数保留。 阻值 去 /mA 250 内接 80.0=l1.6 SA×1270=635 252.0 外接 15 800=1.6 50 150×750=7.5 213.3 3 30 内接 70.0=14 90.8=454 30.84 150 外接 ×70.0=l4 94.5=47.25 29.63 实验数据处理: (1)伏安法测电阻 系统误差的修正 对于测2509电阻时采用的内接法 电压表量程:3V 级别:0.5 电流表量程:15mA 级别:0.5 电流表内阻根据所选量程不同给出 7.5mA(3.6109)15mA(2.4099)30mA(1.369)75mA(0.5979) 饣R=Rn-R1=2520-3610=24842 对于测309电阻时采用的外接法 R,=所选电压表量程电压表欧姆每伏数=3×500=15009 R=RR 人-50 =30.230 电子元件伏安特性的研究数据处理数据处理 电子元件伏安特性的研究数据处理 1 电子元件伏安特性的研究数据处理 数据记录与数据处理 1. 取待测电阻 250Ω( Rx  100RA )内接 2. 取待测电阻 30Ω( R Rv 100 x  )外接 3. 实验数据记录: 要求原始数据为： 读刻度格数(格数估读一位) 满刻度格数 量程  注:不确定度的结果保留一位有效数字 ．．．．．．．．．．．．．．．,．于计算不确定度有关的数字均保留两位有效数 ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．． 字，测量结果按照不确定度的数字位数保留 ．．．．．．．．．．．．．．．．．．．。 阻值 接法 V/V I/mA R测 /Ω 250 内接 80 0 1 6 150 3  . = . 127 0 6 35 150 7 5 . . .  = 252.0 外接 80 0 1 6 150 3  . = . 75.0 7.5 150 15  = 213.3 30 内接 70 0 1 4 150 3  . = . 90.8 45.4 150 75  = 30.84 外接 70 0 1 4 150 3  . = . 94.5 47.25 150 75  = 29.63 4. 实验数据处理: (1)伏安法测电阻: 系统误差的修正: 对于测 250Ω电阻时采用的内接法 电压表量程:3V 级别:0.5 电流表量程:15mA 级别:0.5 电流表内阻根据所选量程不同给出 7.5mA(3.610Ω) 15mA(2.409Ω) 30mA(1.36Ω) 75mA(0.597Ω) 有 = － = 测－ = 252.0－3.610 = 248.4 测 测 x RA R RA R U R 对于测 30Ω电阻时采用的外接法 Rv = 所选电压表量程电压表欧姆每伏数= 3500＝1500 有 =  −  = − = 30.23 1500 29.63 1500 29.63 测 测 R R R R R v v x