扫描隧道显微镜,STM○ Ni(110) 探针与样品间距-1A ·工作电压~1伏 原理:电子隧穿效应 ·工作方式及精度 样品距 穿电流恒定 #固定针尖和样品距w(x) 垂直分辨率:0.01A 种p∥45.2413che國体学 体理学 原子力显微镜,AFM 本讲要点 STM的局限 ·晶体结构的实验观察,晶体周期性结构在倒空 STM只能用于导电材料,绝缘体也须在样品表面镀 间的反映 上导电层 ·晶体衍射理论 测量的是电子云分布 Brag定律 AFM(atomic force microscopy) 结构原理同STM,也可用于绝缘体 ·结构因子(决定消光条件) 过测量探针与样品之闻的原子力来探测表面构 原子形状因子J=(rd 型,通常保持原子力为一常数,记录探针位 晶体衍射的实验方法 ·x射线仿射 45.24112gche园体制学 趣452413 binche体嚼理学 概念要点 思考问题 ·晶体衍射 Bragg定律在物理图象上是否清楚? 彷射极大条件: 条件, von laue条件 散射振幅 原子形成因子 种45.2413yche是学 趣452413 binche物理学7 http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 37 扫描隧道显微镜，STM • 探针与样品间距~1A • 工作电压~1伏 • 原理：电子隧穿效应 • 工作方式及精度 * 针尖作二维扫描 # 改变针尖和样品距 离使隧穿电流恒定 # 固定针尖和样品距 离，测隧穿电流 * 垂直分辨率：0.01A * 横向分辨率：1A U(x) φ ψ(x) d http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 38 Ni(110) http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 39 原子力显微镜，AFM • STM的局限 * STM只能用于导电材料，绝缘体也须在样品表面镀 上导电层 * 测量的是电子云分布 • AFM (atomic force microscopy) * 结构原理同STM，也可用于绝缘体 * 通过测量探针与样品之间的原子力来探测表面构 型，通常保持原子力为一常数，记录探针位置 http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 40 本讲要点 • 晶体结构的实验观察，晶体周期性结构在倒空 间的反映 • 晶体衍射理论 * Bragg定律 * von Laue公式 * 结构因子(决定消光条件) * 原子形状因子 • 晶体衍射的实验方法 * X射线衍射 j i j j S f e K τ K − ⋅ = ∑ r r K r f e d i j j − ⋅ ∫ = ρ ( ) http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 41 概念要点 • 晶体衍射 * 衍射极大条件：Bragg条件，von Laue条件 • 散射振幅 * 几何结构因子 * 原子形成因子 http://10.45.24.132/~jgche/ 固体物理学 42 思考问题 • Bragg定律在物理图象上是否清楚？