·206· 工程科学学报，第40卷，第2期 100 100) RD 图6热轧板表面组织异常(a)(b),热轧板中心处组织异常（©）以及热轧板中心处形变品粒取向成像(d)和100极图（©） Fig.6 Optical micrographs of defective hot rolling band in the edge position (a)(b)and center (c),and the EBSD orientation map (d)and pole figure (e)of coarse deformed grains in the center of defective hot rolling band 组织，而右侧表层是再结晶组织，这也是造成磁性能 {100}(001)附近取向晶粒（红色晶粒），这种晶粒储 波动的原因之一 能低，非常稳定，在二次冷轧之后的二次再结晶阶段 易形成较大尺寸晶粒，无法完全被G0ss晶品粒吞噬， 最终形成细晶区域，即线晶 2.4单片板内磁性能波动的分析 含铜CG0钢的另一个缺点是同一块板不同部 位磁性能波动范围比低温渗氨钢大的多.图9是三 个不同组织成品板磁性能波动数据.1#表示较小等 轴晶组织：2#表示较大等轴晶组织：3#表示长条晶组 图7电解法萃取抑制剂时不同热轧板及不同位置的表面低倍 形貌（左：缺陷热轧板边部：中：缺陷热轧板边部：右：正常热轧板 织.测定方法是将单片500mm×500mm磁性能已 边部) 知的样品沿板横向依次裁成30mm×300mm单片， Fig.7 Images of different hot rolling bands after electrolytic extrac- 测出小单片的磁性能，变异系数（标准差/均值）见 tion(Left:edge position of defective hot rolling band;Middle:center 表2.可见个别位置磁性能低于标准值.铁损的变 of defective hot rolling band;Right:edge position of normal hot roll- 异系数高于磁感值.大品粒组织的磁性能波动大于 ing band) 小晶粒组织.这种系统的大波动来源于与含铜取向 图8(a)为中间退火板表层观察到的粗大晶粒. 钢相关的如下几个原因：(1)二次冷轧法下，中间退 可见，图6显示的热轧板表层的粗晶组织会遗传给 火后第二次形变量偏小，造成高斯种子较多，这些高 中间退火板.因为热轧板中的粗晶储能低，形变后 斯取向种子的取向偏差大：(2)因为一次再结晶是 再结品形核率低，晶粒粗大.图8(b)、8(c)为同一 在很缓慢的升温速度下完成的，一次品粒尺寸过大， 样品另一区域表层的大晶粒取向及ODF(取向分布 二次再结晶温度被推迟，不同取向偏差度的高斯品 函数，1、④、P2为欧拉角)图像，发现大品粒主要为 粒都能生长，降低整体高斯晶粒取向度，导致磁性能 a (e) 0° 90° 20 100m 业四 001 极密度等高线：1-2-4-8-16.，-45°，Max=25.94 图8中间退火板表层粗大品粒光镜组织(a),电子背散射衍射成像(b)及ODF图(c) Fig.8 Optical image (a),EBSD orientation map (b)and ODF (c)of intermediate annealing specimens at the side region of defective band工程科学学报,第 40 卷,第 2 期 图 6 热轧板表面组织异常(a)(b), 热轧板中心处组织异常(c)以及热轧板中心处形变晶粒取向成像(d)和{100}极图(e) Fig. 6 Optical micrographs of defective hot rolling band in the edge position (a)(b) and center (c), and the EBSD orientation map (d) and {100} pole figure (e) of coarse deformed grains in the center of defective hot rolling band 组织,而右侧表层是再结晶组织,这也是造成磁性能 波动的原因之一. 图 7 电解法萃取抑制剂时不同热轧板及不同位置的表面低倍 形貌(左:缺陷热轧板边部; 中:缺陷热轧板边部;右:正常热轧板 边部) Fig. 7 Images of different hot rolling bands after electrolytic extrac鄄 tion(Left: edge position of defective hot rolling band; Middle: center of defective hot rolling band; Right: edge position of normal hot roll鄄 ing band) 图 8 中间退火板表层粗大晶粒光镜组织(a), 电子背散射衍射成像(b)及 ODF 图(c) Fig. 8 Optical image (a), EBSD orientation map (b) and ODF (c) of intermediate annealing specimens at the side region of defective band 图 8(a)为中间退火板表层观察到的粗大晶粒. 可见,图 6 显示的热轧板表层的粗晶组织会遗传给 中间退火板. 因为热轧板中的粗晶储能低,形变后 再结晶形核率低,晶粒粗大. 图 8( b)、8( c)为同一 样品另一区域表层的大晶粒取向及 ODF(取向分布 函数,渍1 、椎、渍2为欧拉角)图像,发现大晶粒主要为 {100}掖001业附近取向晶粒(红色晶粒),这种晶粒储 能低,非常稳定,在二次冷轧之后的二次再结晶阶段 易形成较大尺寸晶粒,无法完全被 Goss 晶粒吞噬, 最终形成细晶区域,即线晶. 2郾 4 单片板内磁性能波动的分析 含铜 CGO 钢的另一个缺点是同一块板不同部 位磁性能波动范围比低温渗氮钢大的多. 图 9 是三 个不同组织成品板磁性能波动数据. 1#表示较小等 轴晶组织;2#表示较大等轴晶组织;3#表示长条晶组 织. 测定方法是将单片 500 mm 伊 500 mm 磁性能已 知的样品沿板横向依次裁成 30 mm 伊 300 mm 单片, 测出小单片的磁性能,变异系数(标准差/ 均值) 见 表 2. 可见个别位置磁性能低于标准值. 铁损的变 异系数高于磁感值. 大晶粒组织的磁性能波动大于 小晶粒组织. 这种系统的大波动来源于与含铜取向 钢相关的如下几个原因:(1)二次冷轧法下,中间退 火后第二次形变量偏小,造成高斯种子较多,这些高 斯取向种子的取向偏差大;(2)因为一次再结晶是 在很缓慢的升温速度下完成的,一次晶粒尺寸过大, 二次再结晶温度被推迟,不同取向偏差度的高斯晶 粒都能生长,降低整体高斯晶粒取向度,导致磁性能 ·206·