随着计算机技术的飞速发展和大规模集成 电路的广泛应用,智能仪器在改善和提高 自身性能的同时,也大大增加了系统的复 杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问 题,如测试时间长、故障诊断困难、使用 维护费用高等,从而引起了人们的高度重 视。自20世纪80年代以来,测试性和诊断 技术在国外得到了迅速发展,研究人员开 展了大量的系统测试和诊断问题的研究, 测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性 并行发展的学科分支• 随着计算机技术的飞速发展和大规模集成 电路的广泛应用，智能仪器在改善和提高 自身性能的同时，也大大增加了系统的复 杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问 题，如测试时间长、故障诊断困难、使用 维护费用高等，从而引起了人们的高度重 视。自20世纪80年代以来，测试性和诊断 技术在国外得到了迅速发展，研究人员开 展了大量的系统测试和诊断问题的研究， 测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性 并行发展的学科分支