可测试性分析应用 可测试性的计算必须比测试生成简单而且快，如果可测试性计算 快，定且能精确地预言测试产生的困难性，并且定位到电路的某 一部分，那么这些信息就可用到电路的修改设计中. 口指导设计人员进行可测试性设计 ▣加速自动测试生成 口缩短随机测试序列长度 ▣代替故障模拟 口用法： ■测试电路内部困难的分析-重新设计或增加专用测试硬件： ■算法计算测试矢量的原则-避免采用难控制的连线： ■故障覆盖率的评估； 测试矢量长度的评估。 2020/9/5 集成电路可测性设计 82020/9/5 集成电路可测性设计 8 可测试性分析应用  可测试性的计算必须比测试生成简单而且快, 如果可测试性计算 快, 定且能精确地预言测试产生的困难性, 并且定位到电路的某 一部分, 那么这些信息就可用到电路的修改设计中.  指导设计人员进行可测试性设计  加速自动测试生成  缩短随机测试序列长度  代替故障模拟  用法:  测试电路内部困难的分析– 重新设计或增加专用测试硬件；  算法计算测试矢量的原则– 避免采用难控制的连线；  故障覆盖率的评估；  测试矢量长度的评估