激发温度:一般地,温度升高谱线强度增大。 但当超过某一温度后,体系中电离的原子数目增 加,使原子线的强度逐渐减弱而离子线的强度增 大。若温度再升高,一级离子线的强度也随之减 弱。因此,每条谱线均有其适合的激发温度,与采 用的激发光源有关。 e.基态原子数:谱线的强度与基态原子数目成正 比。在特定的实验条件下,基态原子数与试样中被 测元素的浓度成正比。所以谱线的强度与被测元素 的浓度有一定关系,可进行定量分析。d. 激发温度：一般地，温度升高谱线强度增大。 但当超过某一温度后，体系中电离的原子数目增 加，使原子线的强度逐渐减弱而离子线的强度增 大。若温度再升高，一级离子线的强度也随之减 弱。因此，每条谱线均有其适合的激发温度，与采 用的激发光源有关。 e. 基态原子数：谱线的强度与基态原子数目成正 比。在特定的实验条件下，基态原子数与试样中被 测元素的浓度成正比。所以谱线的强度与被测元素 的浓度有一定关系，可进行定量分析