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,1120 北京科技大学学报 第33卷 断减小,而析氢率却逐渐增大,由于S含量增大, 疏松、不致密,因而使镁合金阳极具有较负的自腐蚀 球形颗粒相M竖S含量增多,合金自腐蚀程度加 电位,同时使Mg基体裸露,更容易和溶解介质接 大,从而使电流效率降低,析氢量增大·由于生成的 触,使点蚀更易引发和扩展,从而造成活化,因此孔 氢气对氧化物膜和腐蚀产物层起强烈的破坏作用, 内的镁难以再形成氧化膜,而一直处于活化状态,致 它可以机械剥离最外层的表面膜,并使表面氧化膜 使随Sn含量的增加,合金自腐蚀速率明显提高, 1.5(a 5n1% 1.40b) Sn 1% Sn 2% 1.35- Su 2% 1.3 1.30 Sn 3% 125 Sn 3% 1.1 1.20 09 1.15 1.10 0.7 020040060080010001200 1.05 0 20040060080010001200 s s 图6不同Sm含量的单电流阶跃计时电位测试.电流密度:(a)20mA:m;(b)30mA·m1 Fg6 Step curent chmonopolentimetry test at different tn contents the curent density is (a)20mA.cm and (b)30mA.cm 表2单电流阶跃计时电位法测试结果 Table 2 Results of step curent chronopotenticmetry tests sn质量分数% 电流密度,产20mA·m 电流密度,产30mA·m1 放电电位N电流效率%析氢率mmm.m2)放电电位人电流效率%析氢率mLmm1.m2) 1 1.47 8228 567X10-2 138 54.28 9.6X10-2 9 1.3 7280 9.32×10-2 1.33 4218 1.6×10-1 1.29 69.67 228×10-1 1.24 39.67 37×10-1 对比图6(a)和图6(b)及表2的测试数据发 率提高 现,随着阶跃电流密度的提高,合金放电电位、电流 (5)随着含Sn量的增加,放电电位及电流效率 效率降低,而析氢率提高。镁的“负差数效应”会导 不断减小,自腐蚀速率及析氢率逐渐增大,随着阶跃 致电流密度越大,镁合金阳极极化程度越大,致使工 电流密度的提高,合金放电电位、电流效率降低,而 作电压越小,电流效率越低,因此,该镁合金阳极材 析氢率提高 料适宜在小电流下工作, 3结论 参考文献 (1)Sn元素的加入使合金中B-MAl2相由 [1]Feng Y.W ang R C Peng C Q.et al Aging behaviour and elee- trochen ical properties in Mg4.8Hg8Ga (wt%)alloy Corms 长棒状逐渐转变为颗粒状分布,而且析出量有较大 Sci201052(10):3474 降低,并随Sn含量的增多,合金中球形颗粒相 [2]W ang NG.WangR C.Peng CQ et al Infhence of alm inim MgSn增多 and lead on activation of magnesim as anode Trans Nonferrous (2)MgA厂Sn-Zn合金由a-Mg基体、B- Met Soc China 2010 20(8):1403 M,Al2和M竖Sn相组成.均匀化处理后随着Sn含 [3]Lancry Eli LeviE Gofer Y.et al The effect ofm illing on the perfomance of a MoSs Chevrel phase as a cathode material for re- 量的加入合金晶粒更加细小,长棒状BMg7Al2相 chargeable Mg batteries J Solidl Sta te Electrochen.2005.9 259 经热处理后可基本溶入基体,而M2S相还有部分 [4]Meng FG.W ang J Rong M H.etal Themodynam ic assessment 未溶 ofMg Ga bnary systemn.Tmans NonfermousMet Soe China 2010 20 (3)腐蚀产物主要成分为M0和AbO3,产物 (3):450 [5]Yu L Zhang X G.Electmochen ical insertion of magnesim ions 疏松多孔,且有微小裂纹,易脱落 nto V2Os frm aprotic eleetmolyes with varied water content J (4)随Sn含量的增大,欧姆极化降低,不易钝 Colloid Interface Sci 2004.278(1):160 化,并且MgS颗粒相增多,局部腐蚀加剧,腐蚀速 [6]Ln M C TsaiC Y.Uan JY.Electmochan ical behaviour and cor北 京 科 技 大 学 学 报 第 33卷 断减小‚而析氢率却逐渐增大.由于 Sn含量增大‚ 球形颗粒相 Mg2Sn含量增多‚合金自腐蚀程度加 大‚从而使电流效率降低‚析氢量增大.由于生成的 氢气对氧化物膜和腐蚀产物层起强烈的破坏作用‚ 它可以机械剥离最外层的表面膜‚并使表面氧化膜 疏松、不致密‚因而使镁合金阳极具有较负的自腐蚀 电位‚同时使 Mg基体裸露‚更容易和溶解介质接 触‚使点蚀更易引发和扩展‚从而造成活化‚因此孔 内的镁难以再形成氧化膜‚而一直处于活化状态‚致 使随 Sn含量的增加‚合金自腐蚀速率明显提高. 图 6 不同 Sn含量的单电流阶跃计时电位测试.电流密度:(a)20mA·cm-1;(b)30mA·cm-1 Fig.6 Stepcurrentchronopotentiometrytestatdifferenttincontents:thecurrentdensityis(a)20mA·cm-1and(b)30mA·cm-1 表 2 单电流阶跃计时电位法测试结果 Table2 Resultsofstepcurrentchronopotentiometrytests Sn质量分数/% 电流密度‚j=20mA·cm-1 电流密度‚j=30mA·cm-1 放电电位 /V 电流效率/% 析氢率/(mL·min-1·cm-2) 放电电位/V 电流效率/% 析氢率/(mL·min-1·cm-2) 1 1.47 82.28 5.67×10-2 1.38 54.28 9.6×10-2 2 1.34 72.80 9.32×10-2 1.33 42.18 1.6×10-1 3 1.29 69.67 2.28×10-1 1.24 39.67 3.7×10-1 对比图 6(a)和图 6(b)及表 2的测试数据发 现‚随着阶跃电流密度的提高‚合金放电电位、电流 效率降低‚而析氢率提高.镁的 “负差数效应 ”会导 致电流密度越大‚镁合金阳极极化程度越大‚致使工 作电压越小‚电流效率越低.因此‚该镁合金阳极材 料适宜在小电流下工作. 3 结论 (1) Sn元素的加入使合金中 β--Mg17Al12相由 长棒状逐渐转变为颗粒状分布‚而且析出量有较大 降低‚并随 Sn含量的增多‚合金中球形颗粒相 Mg2Sn增多. (2) Mg--Al--Sn--Zn合金由 α--Mg基体、β-- Mg17Al12和 Mg2Sn相组成.均匀化处理后随着 Sn含 量的加入合金晶粒更加细小‚长棒状 β--Mg17Al12相 经热处理后可基本溶入基体‚而 Mg2Sn相还有部分 未溶. (3) 腐蚀产物主要成分为 MgO和 Al2O3‚产物 疏松多孔‚且有微小裂纹‚易脱落. (4) 随 Sn含量的增大‚欧姆极化降低‚不易钝 化‚并且 Mg2Sn颗粒相增多‚局部腐蚀加剧‚腐蚀速 率提高. (5) 随着含 Sn量的增加‚放电电位及电流效率 不断减小‚自腐蚀速率及析氢率逐渐增大.随着阶跃 电流密度的提高‚合金放电电位、电流效率降低‚而 析氢率提高. 参 考 文 献 [1] FengY‚WangRC‚PengCQ‚etal.Agingbehaviourandelec- trochemicalpropertiesinMg-4∙8Hg-8Ga (wt.% ) alloy.Corros Sci‚2010‚52(10):3474 [2] WangNG‚WangRC‚PengCQ‚etal.Influenceofaluminium andleadonactivationofmagnesium asanode.TransNonferrous MetSocChina‚2010‚20(8):1403 [3] LancryEli‚LeviE‚GoferY‚etal.Theeffectofmillingonthe performanceofaMo6S8Chevrelphaseasacathodematerialforre- chargeableMgbatteries.JSolidStateElectrochem‚2005‚9:259 [4] MengFG‚WangJ‚RongMH‚etal.Thermodynamicassessment ofMg-Gabinarysystem.TransNonferrousMetSocChina‚2010‚20 (3):450 [5] YuL‚ZhangXG.Electrochemicalinsertionofmagnesium ions intoV2O5 from aproticelectrolyteswithvariedwatercontent.J ColloidInterfaceSci‚2004‚278(1):160 [6] LinMC‚TsaiCY‚UanJY.Electrochemicalbehaviourandcor- ·1120·
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