实验二逻辑门电路测试二 实验二逻辑门电路测试 1.实验目的 2.实验内容 (1)了解用环形振荡器法和脉冲形成法这两 种方法测量门的延迟时间 (1)预习报告与实验原理 2通过实验理解产生 装超的过类机制 (2)用环形振荡器测量门的延迟时间 用DL门或CMos门组成环形振荡 示波器)的带宽 器 如下图所示,通过隔离级 G3用示波器观察振荡波形。 (3)学会利用门延迟设计窄脉冲发生器。 D可 实验二逻辑门电路测试二 实验二逻辑门电路测试二 (3)用脉冲形成法测量门的延迟时间 (4)设计一个窄脉冲形成电路 输入一个宽脉冲,G3输出的脉冲波形应 按下图所示电路,正确地选择电阻和电 为宽度为3的负脉冲 容,组成一个产生脉宽为1的窄脉冲 形成电路。应该注意:对于TTL路和 CMOS电路,R的取值有较大的差异。 厂D4 1 L 实验二逻辑门电路测试二 实验二逻辑门电路测试二 3试验中可能涉及的问题 4难点 (1)负载电容对传输延时的影响 用频谱分析的方法对测量结果进行修 (2)三种延时测量方法(脉冲形成法、环形 正,求出真实信号的幅度与宽度。 振荡法以及直接输入输出法)的特点及 适用范围1 实验二 逻辑门电路测试二 ⒈实验目的 (1)了解用环形振荡器法和脉冲形成法这两 种方法测量门的延迟时间。 (2)通过实验理解产生门的延迟时间的机制。 由于观察波形的带宽超出了测量仪器 （示波器）的带宽，因此要求用频谱分 析的方法对测量结果进行修正，以得到 接近实际的测量值。 (3)学会利用门延迟设计窄脉冲发生器。 2 实验二 逻辑门电路测试二 2.实验内容 (1)预习报告与实验原理 (2)用环形振荡器测量门的延迟时间 用DTL门或CMOS门组成环形振荡 器， 如下图所示，通过隔离级 G3用示波器观察振荡波形。 3 实验二 逻辑门电路测试二 (3)用脉冲形成法测量门的延迟时间 输入一个宽脉冲，G3输出的脉冲波形应 为宽度为3 的负脉冲。 τ g 4 实验二 逻辑门电路测试二 (4)设计一个窄脉冲形成电路 按下图所示电路，正确地选择电阻和电 容，组成一个产生脉宽为1 的窄脉冲 形成电路。应该注意：对于TTL电路和 CMOS电路，R的取值有较大的差异。 μs 5 实验二 逻辑门电路测试二 3.试验中可能涉及的问题 (1)负载电容对传输延时的影响。 (2)三种延时测量方法（脉冲形成法、环形 振荡法以及直接输入输出法）的特点及 适用范围。 6 实验二 逻辑门电路测试二 4.难点 用频谱分析的方法对测量结果进行修 正，求出真实信号的幅度与宽度。 1