.36. 北京科技大学学报 第29卷 裂纹，因此裂纹更容易优先从夹杂处形成，另外，对 明显小于未充氢试样(1126N),并且图3(c)中白色 比图2(d)和图3(c)可以看出，试样尺寸相同，开裂 变形带的数量和变形程度明显比图2()小，这也定 程度也基本相同，但充氢试样所需外加载荷(882N) 性地说明了氢降低试样的塑性，使试样变脆。 (a) (b) A B 50 um 50μm 8 800 640 480 Mn 320 160 0.203 12,406 18,609 50 um E/keV 图3SEM下充氢试样分别受到(a)843N,(b)862N,(c)882N拉伸时裂纹形核扩展过程形貌图：(d)为图(a)中D处的能谱 Fig.3 In situ SEMextending processes for the sample after hydrogen charging with a current density of 0.1mAcmfor 20 h under applied loads of (a)843N.(b)862N.and (c)882N:(d)typical energy dispersive spectroscopy corresponding Site D in Fig(a) 2.2厚试样的断裂过程 程，当主裂纹扩展到A时，微裂纹a在其左前方的 对厚度为30mm的WOL试样，用螺钉加载使 珠光体团中形核，如图4(a),图中白色条块F1,F2 WOL试样开裂，在金相显微镜下观察裂纹的扩展过 是先共析铁素体，继续加载，微裂纹a在珠光体中 (a) (b) 20 um (d) 404m 201m 图4WOL试样的开裂过程.(a)微裂纹a在主裂纹A前的珠光体中形核：(b)微裂纹a扩展；(c)微裂纹a前出现变形带：(d)对应图 (c)的SEM像 Fig.4 Optical micrographs of the WOL specimen with a thickness of 30mm in the processes of microcrack initiation in pearlite:(a)microcrack a initiating in the pearlite in front of main crack tip A;(b)microcrack a widening and developing:(c)deformation bands appearing ahead of Microcrack a:(d)SEM micrograph corresponding to Fig(c)裂纹‚因此裂纹更容易优先从夹杂处形成．另外‚对 比图2（d）和图3（c）可以看出‚试样尺寸相同‚开裂 程度也基本相同‚但充氢试样所需外加载荷（882N） 明显小于未充氢试样（1126N）‚并且图3（c）中白色 变形带的数量和变形程度明显比图2（d）小‚这也定 性地说明了氢降低试样的塑性‚使试样变脆． 图3 SEM 下充氢试样分别受到（a）843N‚（b）862N‚（c）882N 拉伸时裂纹形核扩展过程形貌图；（d） 为图（a）中 D 处的能谱 Fig．3 In situ SEM extending processes for the sample after hydrogen charging with a current density of 0∙1mA·cm －2 for20h under applied loads of （a）843N‚（b）862N‚and （c）882N；（d） typical energy dispersive spectroscopy corresponding Site D in Fig．（a） 2∙2 厚试样的断裂过程 对厚度为30mm 的 WOL 试样‚用螺钉加载使 WOL 试样开裂‚在金相显微镜下观察裂纹的扩展过 程．当主裂纹扩展到 A 时‚微裂纹 a 在其左前方的 珠光体团中形核‚如图4（a）‚图中白色条块 F1‚F2 是先共析铁素体．继续加载‚微裂纹 a 在珠光体中 图4 WOL 试样的开裂过程．（a） 微裂纹 a 在主裂纹 A 前的珠光体中形核；（b） 微裂纹 a 扩展；（c） 微裂纹 a 前出现变形带；（d） 对应图 （c）的 SEM 像 Fig．4 Optical micrographs of the WOL specimen with a thickness of30mm in the processes of microcrack initiation in pearlite： （a） microcrack a initiating in the pearlite in front of main crack tip A；（b） microcrack a widening and developing；（c） deformation bands appearing ahead of Microcrack a；（d） SEM micrograph corresponding to Fig．（c） ·36· 北 京 科 技 大 学 学 报 第29卷