绪论 分析电子显微镜(AEM：analytical electron microscope)就是具有成分分析功能的透射电子显微镜 (TEM:transmission electron microscope).TEM 一种以高能电子束为照明源，通过电磁透镜将穿透样品 的电子（即透射电子）聚焦成像的电子光学仪器。 材料研究的基本任务就是根据材料实际使用所需的性 能来设计成分和工艺，以期获得理想的微观组织，从而 达到预期性能的目标。无疑，材料微观组织的表征，包 括材料的微区成分、点阵结构和组织形貌的三位一体的 原位分析是极为重要。至今，只有分析电子显微镜具有 三位一体原位分析的功能，因此掌握分析电子显微学的 基本理论和实验技术对于将要从事材料研究的本科生是 非常必要的。绪 论 分 析 电 子 显 微 镜 （ AEM ： analytical electron microscope)就是具有成分分析功能的透射电子显微镜 （TEM：transmission electron microscope)。TEM是 一种以高能电子束为照明源，通过电磁透镜将穿透样品 的电子（即透射电子）聚焦成像的电子光学仪器。 材料研究的基本任务就是根据材料实际使用所需的性 能来设计成分和工艺，以期获得理想的微观组织，从而 达到预期性能的目标。无疑，材料微观组织的表征，包 括材料的微区成分、点阵结构和组织形貌的三位一体的 原位分析是极为重要。至今，只有分析电子显微镜具有 三位一体原位分析的功能，因此掌握分析电子显微学的 基本理论和实验技术对于将要从事材料研究的本科生是 非常必要的