3.1起源 起源1985 -电路测试的DFT方法 -为了测试电路板上IC之间的连通性 欧洲1985：联合测试行动组一JTAG USA1990:IEEE1149.1标准 目前得到广泛应用 2020/9/5 集成电路可测性设计 103.1 起源 起源1985 电路板测试的DFT方法 为了测试电路板上IC之间的连通性 欧洲1985: 联合测试行动组－JTAG USA1990: IEEE 1149.1 标准 目前得到广泛应用 2020/9/5 集成电路可测性设计 10