通过测量光电子的强度可以测定元素含量。 对于固体样品,可以探测2~20个原子层深度 的范围,探测深度依赖于被测材料、光电子能 量和探测的角度。 从生物到冶金材料广阔的范围里,X射线光 电子谱的优点是可无标样半定量测定表面元素。通过测量光电子的强度可以测定元素含量。 对于固体样品，可以探 测 2 ～20个原子层深度 的范围，探测深度依赖于被测材料、光电子能 量和探测的角度。 从生物到冶金材料广阔的范围里， X射线光 电子谱的优点是可无标样半定量测定表面元素