版权©2014，版权所有，侵犯必究 由失调引起的flash-ADC良率下降 VREF 1 N Yield % 100 Vos1 80 60 40 Vos2 -N-bit 20 10 bit 9 bit 8 bit 7 bit 0 Vos3 0 2 4 6 a(△V)mV Vos4 Standard deviation of random offset Ref.:Pelgrom,IEDM 1998,pp.789. 复旦大学射频集成电路设计研究小组 -136- 唐长文复旦大学 射频集成电路设计研究小组 唐长文 版权©2014，版权所有，侵犯必究 -136- 由失调引起的flash-ADC良率下降 Ref.: Pelgrom, IEDM 1998, pp.789. 10 bit 9 bit 8 bit 7 bit T vIN vos1 vos2 vos3 vos4 VREF N-bit