统计平均值。此值由产生散斑的激光波长λ及粗糙表面圆形照明区域对该散斑的孔 径角u’所决定，即 若经过一个光学系统，在它的像平面上形成的散斑，称为成像散斑，则 4=3、06d = 在斑干涉技术中，常常应用成像散斑来进行测量。 散斑的基本性质： 1.散斑与均匀场的相干结合，散斑图与相应的单独散斑图分布差别不大，只 是全暗光斑较少一些 2.散斑与均匀场的不相干叠加，没有全暗散斑 3.两个散斑场的相干相加，散斑的大小没有明显变化 4.两个散斑场的非相干相加，没有全暗光斑 三、实验器材 光电实验平台、电脑 四、 实验光路图 0 光做 CMOS引机 a-激光器，b-衰减片，c-反射镜，d-显微物镜，e-准直透镜，f-可变光阑， g-分光棱镜，k-衰减片，i,j-反射机构 五、实验步骤 1.开机，激光器a通电，待光强稳定： 2.按实验光路图布置好光路，扩束激光： 3.在反射机构i,上安装反射镜： 22 统计平均值。此值由产生散斑的激光波长λ及粗糙表面圆形照明区域对该散斑的孔 径角 u’所决定，即 若经过一个光学系统，在它的像平面上形成的散斑，称为成像散斑，则 在斑干涉技术中，常常应用成像散斑来进行测量。 散斑的基本性质： 1． 散斑与均匀场的相干结合，散斑图与相应的单独散斑图分布差别不大，只 是全暗光 斑较少一些 2． 散斑与均匀场的不相干叠加，没有全暗散斑 3． 两个散斑场的相干相加，散斑的大小没有明显变化 4． 两个散斑场的非相干相加，没有全暗光斑 三、 实验器材 光电实验平台、电脑 四、 实验光路图 a-激光器，b-衰减片，c-反射镜，d-显微物镜，e-准直透镜，f-可变光阑， g-分光棱镜，k-衰减片，i,j-反射机构 五、 实验步骤 1. 开机，激光器 a 通电，待光强稳定； 2. 按实验光路图布置好光路，扩束激光； 3. 在反射机构 i,上安装反射镜；