第十四章表面分析方法概论 概述 X光电子能谱 俄歇电子能谱 扫描隧道显微镜(STM 与原子力显微镜(AFM) 山 2021/2/22 P2021/2/22 HNU-ZLP 1 第十四章 表面分析方法概论 •概述 •X光电子能谱 •俄歇电子能谱 •扫描隧道显微镜(STM) 与原子力显微镜(AFM)