点击下载:湖南大学:《材料测试技术(材料X射线衍射与电子显微分析)》课程教学资源(PPT课件讲稿)第十一章 晶体薄膜衍衬成象分析
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111概述 由与样品内结晶学性质有关的电子衍射特征所 决定的衬度,称为衍射衬度 ●适用于薄晶样品的图象分析,主要用于晶体缺 陷的分析 2021/222021/2/22 HNU-ZLP 2 11.1 概述 由与样品内结晶学性质有关的电子衍射特征所 决定的衬度,称为衍射衬度 适用于薄晶样品的图象分析,主要用于晶体缺 陷的分析
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