A=-BRe∥R 输入电阻 R=RI∥Re∥Ibe 输出电阻 R≈R 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时， 离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必 要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各 项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。因此， 除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。 放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰 与自激振荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。 1、放大器静态工作点的测量与调试 1)静态工作点的测量 测量放大器的静态工作点，应在输入信号=0的情况下进行，即将放大 器输入端与地端短接，然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表，分别测量 晶体管的集电极电流I以及各电极对地的电位、，和U。一般实验中，为了避 免断开集电极，所以采用测量电压或，然后算出Ic的方法，例如，只要测 出即可用L:一受京出上（也可根据儿，由化确定1。 同时也能算出Ue=。一U,Ua=k一U。 为了减小误差，提高测量精度，应选用内阻较高的直流电压表。 2)静态工作点的调试 放大器静态工作点的调试是指对管子集电极电流1（或）的调整与测试。 静态工作点是否合适，对放大器的性能和输出波形都有很大影响。如工作点 偏高，放大器在加入交流信号以后易产生饱和失真，此时的负半周将被削底， 如图2(a)所示；如工作点偏低则易产生截止失真，即的正半周被缩顶（一般 截止失真不如饱和失真明显)，如图2(b)所示。这些情况都不符合不失真放大的 要求。所以在选定工作点以后还必须进行动态调试，即在放大器的输入端加入8 be C L V r R R A β // = − 输入电阻 Ri＝RB1 // RB2 // rbe 输出电阻 RO≈RC 由于电子器件性能的分散性比较大，因此在设计和制作晶体管放大电路时， 离不开测量和调试技术。在设计前应测量所用元器件的参数，为电路设计提供必 要的依据，在完成设计和装配以后，还必须测量和调试放大器的静态工作点和各 项性能指标。一个优质放大器，必定是理论设计与实验调整相结合的产物。因此， 除了学习放大器的理论知识和设计方法外，还必须掌握必要的测量和调试技术。 放大器的测量和调试一般包括：放大器静态工作点的测量与调试，消除干扰 与自激振荡及放大器各项动态参数的测量与调试等。 1、 放大器静态工作点的测量与调试 1) 静态工作点的测量 测量放大器的静态工作点，应在输入信号 ui＝0 的情况下进行， 即将放大 器输入端与地端短接，然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表，分别测量 晶体管的集电极电流 IC以及各电极对地的电位 UB、UC和 UE。一般实验中，为了避 免断开集电极，所以采用测量电压 UE或 UC，然后算出 IC的方法，例如，只要测 出 UE，即可用 E E C E R U I  I = 算出 IC（也可根据 C CC C C R U U I − = ，由 UC确定 IC）， 同时也能算出 UBE＝UB－UE，UCE＝UC－UE。 为了减小误差，提高测量精度，应选用内阻较高的直流电压表。 2) 静态工作点的调试 放大器静态工作点的调试是指对管子集电极电流 I（或C UCE）的调整与测试。 静态工作点是否合适，对放大器的性能和输出波形都有很大影响。如工作点 偏高，放大器在加入交流信号以后易产生饱和失真，此时 uO的负半周将被削底， 如图 2(a)所示；如工作点偏低则易产生截止失真，即 uO的正半周被缩顶（一般 截止失真不如饱和失真明显），如图 2(b)所示。这些情况都不符合不失真放大的 要求。所以在选定工作点以后还必须进行动态调试，即在放大器的输入端加入一