直接测定E是很困难的,但对于均质材料: 8 =8 v为泊松比。对于多晶体试样,总可以找 到若干个晶粒的(hk)晶面与试样表面平 行,这些晶面的晶面间距变化是可测的: d -d 0 因此 e d-d o =Ea 2021/2/22 AUZLP2021/2/22 HNU-ZLP 6 直接测定y是很困难的，但对于均质材料： 为泊松比。对于多晶体试样，总可以找 到若干个晶粒的（hkl）晶面与试样表面平 行，这些晶面的晶面间距变化是可测的： 因此 x z   y  =  = − 0 0 d dn d z −  =         − = = − 0 0 d E d d E n y y   