分析结合起来，再配以能谱或波谱可以进行微区成份分析。 即T正M是能够进行形貌结构-成分三位一体分析的电子分析仪器，也是当 前最重要的材料测试分析仪器。 日本日立公司H-700电子显微镜，配有双 倾台，并带有7010扫描附件和EDAX9100能谱。 该仪器不但适合于医学、化学、微生物等方面的 研究，由于加速电压高，更适合于金属材料、矿 物及高分子材料的观察与结构分析，并能配合能 谱进行微区成份分析。 分辨率：0.34nm ●加速电压：75KV-200KV ●放大倍数：25万倍 ● 能谱仪：EDAX一9100 ●扫描附件：S7010 CM200-FEG场发射枪电镜 加速电压20KV、40KV、80KV 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率1.4A 点分辨率24A 最小电子束直径lnm 能量分辨率约1ey 倾转角度aF±20度 =±25度 JEM-2010透射电镜 加速电压200KV LaB6灯丝 点分辨率1.94A 分析结合起来，再配以能谱或波谱可以进行微区成份分析。 即 TEM 是能够进行形貌-结构-成分三位一体分析的电子分析仪器，也是当 前最重要的材料测试分析仪器。 日本日立公司 H－700 电子显微镜，配有双 倾台，并带有 7010 扫描附件和 EDAX9100 能谱。 该仪器不但适合于医学、化学、微生物等方面的 研究，由于加速电压高，更适合于金属材料、矿 物及高分子材料的观察与结构分析，并能配合能 谱进行微区成份分析。 分 辨 率：0.34nm ● 加速电压：75KV－200KV ● 放大倍数：25 万倍 ● 能 谱 仪：EDAX－9100 ● 扫描附件：S7010 CM200-FEG 场发射枪电镜 加速电压 20KV、40KV、80KV、 160KV、200KV 可连续设置加速电压 热场发射枪 晶格分辨率 1.4Å 点分辨率 2.4Å 最小电子束直径 1nm 能量分辨率约 1ev 倾转角度 α=±20 度 β=±25 度 JEM-2010 透射电镜 加速电压 200KV LaB6 灯丝 点分辨率 1.94Å