Table of Contents 1绪论 2可编程逻辑器件及现场可编程门阵列 3 数字集成电路系统设计工程 4 Verilog基础 5数字逻辑电路的Verilog RTL建模和设计 6数字信号处理器的算法、架构和实现 7可测性设计 ·测试和可测性设计的基本概念 故障建模及ATPG原理 可测性设计 ·扫描测试 ·内建自测试 。 边界扫描法 8 物理设计 9 仿真验证和时序分析 10低功赶设计 2021/1/13 ASIC Design,by Yan Bo 112021/1/13 ASIC Design, by Yan Bo 11 1 绪论 2 可编程逻辑器件及现场可编程门阵列 3 数字集成电路系统设计工程 4 Verilog基础 5 数字逻辑电路的Verilog RTL建模和设计 6 数字信号处理器的算法、架构和实现 7 可测性设计 8 物理设计 9 仿真验证和时序分析 10 低功耗设计 • 测试和可测性设计的基本概念 • 故障建模及ATPG原理 • 可测性设计 • 扫描测试 • 内建自测试 • 边界扫描法 Table of Contents