由于X射线频率远大于声子频率： h2,≈l04eV>>ho≈0.03eV 我们可以认为： 2=2,=d ② q=2kosin@=2nusin 20是散射角。 n是折射率。 处在2日方向的检测器测量到频率漂移后，根据此式即可 确定该声子（。)相对应的q值。转动检测器，改变散 射角2日，允许不同的声子进入图像，不断测量频率漂 移，即可给出一系列的q和⊙(q)值，把这些点连接起 来，即是晶体的某支色散曲线。改变入射波进入晶体的方 向，即可测出不同支的色散曲线。由于 X 射线频率远大于声子频率： 4 0 =  = Ω 10 eV>> 0.03eV ω 我们可以认为： 0 0 Ω Ω , k k G G   0 0 qk n 2 sin 2 sin c θ θ Ω  = 0 0 c k n Ω = JJG 2θ是散射角。 n 是折射率。 处在 2θ方向的检测器测量到频率漂移后，根据此式即可 确定该声子（ω）相对应的 q 值。转动检测器，改变散 射角2θ，允许不同的声子进入图像，不断测量频率漂 移，即可给出一系列的 q 和ω（q）值，把这些点连接起 来，即是晶体的某支色散曲线。改变入射波进入晶体的方 向，即可测出不同支的色散曲线。 ②