2.1表面复型技术 透射电子显微镜利用穿透样品的电 子束成像，这就要求被观察的样品对入射 电子束是“透明的”。电于束穿透固体样 C 品的能力，主要取决于加速电压和样品物 C 质原子序数。加速电压越高，样品原子序 Au 数越低，电子束可以穿透样品厚度就越大， 如图2.1所示。对于透射电子显微镜常用 的加速电压100kV,如果样品是金属，其 10 100 1000 U/kV 平均原子序数在C的原子序数附近，因此 图2.1可穿透厚度t与 适宜的样品厚度约200nm。 加速电压U的关系2.1 表面复型技术 透射电子显微镜利用穿透样品的电 子束成像，这就要求被观察的样品对入射 电子束是“透明的”。电于束穿透固体样 品的能力，主要取决于加速电压和样品物 质原子序数。加速电压越高，样品原子序 数越低，电子束可以穿透样品厚度就越大， 如图2.1所示。对于透射电子显微镜常用 的加速电压100 kV，如果样品是金属，其 平均原子序数在Cr的原子序数附近，因此 适宜的样品厚度约200 nm。 图2.1 可穿透厚度t与 加速电压U的关系