端口信号解释 (1)测试时钟TCK 专用时钟信号，各个步骤的基准，许多测试逻辑是在T℃K的上升沿或下降沿完成。 测试数据可以用测试时钟T℃K串行移入移出，也可以并行移入。 多 (2)测试方式选择TMS 传送测试控制信息，由TAP控制器译码并控制相应的测试操作。，由于仅用一根输入线控制许 多元器件，所以必须用一个输入序列来确定测试方式，同时也必须确保序列传输和译码的 准确性。 测试逻辑在TCK的上升沿采样TMS传输的信号值，因此最好应在TCK的下降沿把TMS改变为下 一个要传输的值。 (3)串行测试数据输入TDI 以申行方式移入输入数据，数据有两种：一种供指令寄存器译码的指令数据，一种是传输 到测试数据寄存器的测试数据。 测试逻辑在TCK的上升沿采样TDI信号。 ÷（4)串行测试数据输出TD0 以串行方式移出数据，传输的数据也是两种，测试指令和测试数据。 测试逻辑在TCK的下降采样TD0信号。 (5)测试系统复位TRST 除了上述4条强制规定的信号外，IEEE1149.1标准还提供一个可供选择的输入信号“测试系 统复位”，功能是控制TAP控制器异步初始化。为了保证测试逻辑的确定性，当TRST上施加 的信号丛0变为1时MS在逻辑1上要保特个TCK时钟周期。 2020/9/5 集成电路可测性设计 162020/9/5 集成电路可测性设计 16 端口信号解释  （1）测试时钟TCK 专用时钟信号，各个步骤的基准，许多测试逻辑是在TCK的上升沿或下降沿完成。 测试数据可以用测试时钟TCK串行移入移出，也可以并行移入。  （2）测试方式选择TMS 传送测试控制信息，由TAP控制器译码并控制相应的测试操作。由于仅用一根输入线控制许 多元器件，所以必须用一个输入序列来确定测试方式，同时也必须确保序列传输和译码的 准确性。 测试逻辑在TCK的上升沿采样TMS传输的信号值，因此最好应在TCK的下降沿把TMS改变为下 一个要传输的值。  （3）串行测试数据输入TDI 以串行方式移入输入数据，数据有两种：一种供指令寄存器译码的指令数据，一种是传输 到测试数据寄存器的测试数据。 测试逻辑在TCK的上升沿采样TDI信号。  （4）串行测试数据输出TDO 以串行方式移出数据，传输的数据也是两种，测试指令和测试数据。 测试逻辑在TCK的下降采样TDO信号。  （5）测试系统复位TRST 除了上述4条强制规定的信号外，IEEE1149.1标准还提供一个可供选择的输入信号“测试系 统复位”，功能是控制TAP控制器异步初始化。为了保证测试逻辑的确定性，当TRST上施加 的信号从0变为1时，TMS在逻辑1上要保持几个TCK时钟周期