应用 依据： 公式 L= 2n0 ·测表面不平度 ·测波长：已知0、n,测L可得 测折射率：已知0、2，测L可得n ·测细小直径、厚度、微小变化 平晶 等厚条纹 平晶 准块规 特测块规 待测工件 让美觉返司退此 上页 下页 返回 退出 依据： • 测表面不平度 • 测波长：已知θ、n，测L可得λ • 测折射率：已知θ、λ，测L可得n • 测细小直径、厚度、微小变化 Δh 待 测 块 规 λ 标 准 块 规 平晶 等厚条纹 待测工件 平晶 2 L n   公式 = 应用