2.傅氏变换法能否用于屏-片系统MTF的测定 3.分析焦点尺寸对焦点MTF的影响。 4.比较焦点长边MTF与短边MTF的区别 六、屏-片系统的噪声等价量子数和量子检出效率测试 (一)实验目的 1.掌握NEQ与DQE的物理意义，成像系统NEQ与DQE的分析方法。 2.了解测试屏-片系统NEQ与DQE的方法。 (二)实验器材与设备 1.实验器材：矩形波测试卡、显微密度计、观片灯、激光准直设鲁、 李片组合（鹤酸 钙屏与配套胶片)、MTF测试软件、S测试软件。 2.实验设备：X线机。 (三)实验方法与步骤 1.采用X线双倍曝光法（见第五章中胶片特性 美制作及特性值测试实验)测试所 用屏-片体系的胶片特性曲线，摄影条件以 为准，计算出胶片特性曲线的直线 部斜率y值，并做图表示。 2.采用对比度测定法（见本 节摩-片系统的一维调制传递函数的测试实验)，使 用矩形波测试卡测定屏-片系 并做图表示。 3.用80kV的管 7铜铝滤过，FD-20cm,照射野使用10cm×10cm,摄影 条件使照片密度 为准。用显微密度计扫描照片，获得10万个密度值，作为离 散随机信号来处经 快速傅里叶变换计算S(可自编软件计算)，并做图表示。 4.用以上测定值计算NEQ与DQE曲线，并做图表示。本实验条件下Q值取 260638光子数/mm2/mR1mR=2.58×10-C/kg)。 (四)实验结果与分析 1.分析胶片y值、MTF(o、WS(@)对NEQ与DQE的影响。 (五)思考题 1.采用不同的屏-片体系完成上述实验，对不同屏-片体系的NEQ与DQE进行比较， 掌握用NEQ与DQE比较成像系统与像质的方法。 一、胶片特性曲线的制作及特性值测试实验 2．傅氏变换法能否用于屏-片系统 MTF 的测定。 3．分析焦点尺寸对焦点 MTF 的影响。 4．比较焦点长边 MTF 与短边 MTF 的区别。 六、屏-片系统的噪声等价量子数和量子检出效率测试 （一）实验目的 1．掌握 NEQ 与 DQE 的物理意义，成像系统 NEQ 与 DQE 的分析方法。 2．了解测试屏-片系统 NEQ 与 DQE 的方法。 （二）实验器材与设备 1．实验器材：矩形波测试卡、显微密度计、观片灯、激光准直设备、屏-片组合（钨酸 钙屏与配套胶片）、MTF 测试软件、WS 测试软件。 2．实验设备：X 线机。 （三）实验方法与步骤 1．采用 X 线双倍曝光法（见第五章中胶片特性曲线的制作及特性值测试实验）测试所 用屏-片体系的胶片特性曲线，摄影条件以使 D=2.1±0.1 为准，计算出胶片特性曲线的直线 部斜率 值，并做图表示。 2．采用对比度测定法（见本章第五节屏-片系统的一维调制传递函数的测试实验），使 用矩形波测试卡测定屏-片系统 MTF，并做图表示。 3．用 80kV 的管电压，采用铜铝滤过，FFD=200cm，照射野使用 ，摄影 条件使照片密度 D=1.0±0.05 为准。用显微密度计扫描照片，获得 10 万个密度值，作为离 散随机信号来处理，用快速傅里叶变换计算 WS（可自编软件计算），并做图表示。 1010 cmcm 4．用以上测定值计算 NEQ 与 DQE 曲线，并做图表示。本实验条件下 q 值取 260638光子数 （ kg/C1058.21mRmR/mm/ ）。 2 7  （四）实验结果与分析 1．分析胶片 值、MTF(ω)、WS(ω)对 NEQ 与 DQE 的影响。 （五）思考题 1．采用不同的屏-片体系完成上述实验，对不同屏-片体系的 NEQ 与 DQE 进行比较， 掌握用 NEQ 与 DQE 比较成像系统与像质的方法。 一、胶片特性曲线的制作及特性值测试实验 影像技术实验教学中心