XPS可提供： 原子浓度>0.1%的所有元素（除H,He外）的鉴别； 表面元素组成的半定量测定（误差<士10%）； y 亚单层灵敏度；探测深度1~10nm,依赖材料和实验参数； 优异的化学信息（化学位移和各种终态效应，以及完善的 标准化合物数据库)；关于分子环境的信息（氧化态、成 键状态、分子结构等)； ，来自震激跃迁（π→π*)的关于芳香的或不饱和烃的结构 信息； 使用价带谱的材料“指纹”和成键轨道的鉴别； 详细的电子结构和某些几何信息； ，样品内的元素深度分布剖析。 中国绅学我术大字 University of Science and Technology of China XPS可提供：  原子浓度>0.1%的所有元素（除H, He外）的鉴别；  表面元素组成的半定量测定（误差<±10%）；  亚单层灵敏度；探测深度1～10 nm，依赖材料和实验参数；  优异的化学信息(化学位移和各种终态效应，以及完善的 标准化合物数据库)；关于分子环境的信息（氧化态、成 键状态、分子结构等）；  来自震激跃迁（p→p *）的关于芳香的或不饱和烃的结构 信息；  使用价带谱的材料“指纹”和成键轨道的鉴别；  详细的电子结构和某些几何信息；  样品内的元素深度分布剖析