4.0、XPS谱图的形式 >XPS谱图的采集: 》XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料 表面出射的电子的能量和数目而得到的。 ,XPS谱图的形式: ,光电子信号强度I随能量的变化关系(1~E): 数据采集模式: ,全扫描谱(Survey scan):扫描能量范围宽(0~1100eV), 灵敏度高(分辨力低),元素鉴别。 ,高分辨谱(①Detail scan):扫描能量范围窄(20eV左右), 分辨力高,主要用于元素化学态分析。 中国斜草投术大室 Iniverstty of Science and Technology of China4.0、XPS谱图的形式 XPS谱图的采集: XPS谱图是通过用X射线照射样品材料的同时测量从材料 表面出射的电子的能量和数目而得到的。 XPS谱图的形式: 光电子信号强度I 随能量的变化关系(I ~ EB); 数据采集模式: 全扫描谱(Survey scan):扫描能量范围宽(01100eV), 灵敏度高(分辨力低),元素鉴别。 高分辨谱(Detail scan):扫描能量范围窄(20eV左右), 分辨力高,主要用于元素化学态分析