基于探测器阵列的DR直接数字成像系统产生的图像质量完全可与胶片照相 媲美,在绝大多数领域可以代替胶片照相,跟数码相机代替普通相机一样,这种 技术将引起射线检测技术的一次革命,实现了射线检测高质量、高效率、低成本 基于探测器阵列的DR直接数字成像系统根据探测单元的排列方式不同,可 以细分为线阵和面阵两种,分别简称为线性探测器和成像面板。由于排列不同 虽然二者的基本功能和电气特性完全一致,但在检测图像的质量和配套设备的选 择方面仍有差别。线性探测器可以在其接收端口安装射线准直窗口,屏蔽周围散 射线的影响,所以图像的本底噪声非常低,几何不清晰度影响减小,因此可以使 用大焦点射线源。使用线性探测器的DR直接数字成像系统体积、重量更小,价 格更低,图像质量更好,应用范围更宽。 1.3基于柔性潜影感光板的CR间接数字成像系统 非胶片成像技术研究的出发点是多方面的。如果说基于探测器阵列的DR直 接数字成像技术研究是从降低检测成本、提髙检测质量和提高检测效率的全面解 决方案为出发点的话,那么基于柔性潜影感光板的CR间接数字成像系统研究的 主要着眼点就是纯粹的降低检测成本。CR间接数字成像技术的核心是研制了 种可反复曝光和擦清的影像板,它收集以“电子捕捉”过程而形成的目标物潜 影,然后使用激光扫描伩进行光电激发测量影像板上各点的密度,通过计算机合 成透视图像。这种技术也可以产生高质量的探伤图像,可以将影像板看作一张可 反复曝光的电子胶片(使用寿命不超过5000次),因此,从节约胶片的角度出发, 其作用是明显的,能有效地降低检测成本,但检测效率的提高并不明显 2非胶片成像设备性能评价指标 国内外有关X射线非胶片成像技术的标准基本上都是一种方法标准,对设 备、人员、关键技术指标等都有明确规定。这些指标的制定依据是力争使非胶片 成像技术产生的透照图像接近或达到普通胶片成像的影像质量,虽然在细节上有 许多不同,但涉及图像质量的主要技术指标要求的内容是一致的。 2.1相对灵敏度 检测灵敏度决定设备对物体中缺陷的检出能力,一般用百分比(%)表示。 百分比越低,灵敏度越高。在国外一般使用阶梯孔型像质计测定,国内使用线性 像质计进行测量。二者的测试结果不能完全等效,似乎国外的测量方法更加科学。基于探测器阵列的 DR 直接数字成像系统产生的图像质量完全可与胶片照相 媲美，在绝大多数领域可以代替胶片照相，跟数码相机代替普通相机一样，这种 技术将引起射线检测技术的一次革命，实现了射线检测高质量、高效率、低成本。 基于探测器阵列的 DR 直接数字成像系统根据探测单元的排列方式不同，可 以细分为线阵和面阵两种，分别简称为线性探测器和成像面板。由于排列不同， 虽然二者的基本功能和电气特性完全一致，但在检测图像的质量和配套设备的选 择方面仍有差别。线性探测器可以在其接收端口安装射线准直窗口，屏蔽周围散 射线的影响，所以图像的本底噪声非常低，几何不清晰度影响减小，因此可以使 用大焦点射线源。使用线性探测器的 DR 直接数字成像系统体积、重量更小，价 格更低，图像质量更好，应用范围更宽。 1.3 基于柔性潜影感光板的 CR 间接数字成像系统 非胶片成像技术研究的出发点是多方面的。如果说基于探测器阵列的 DR 直 接数字成像技术研究是从降低检测成本、提高检测质量和提高检测效率的全面解 决方案为出发点的话，那么基于柔性潜影感光板的 CR 间接数字成像系统研究的 主要着眼点就是纯粹的降低检测成本。CR 间接数字成像技术的核心是研制了一 种可反复曝光和擦清的影像板，它收集以“电子捕捉”过程而形成的目标物潜 影，然后使用激光扫描仪进行光电激发测量影像板上各点的密度，通过计算机合 成透视图像。这种技术也可以产生高质量的探伤图像，可以将影像板看作一张可 反复曝光的电子胶片(使用寿命不超过 5000 次)，因此，从节约胶片的角度出发， 其作用是明显的，能有效地降低检测成本，但检测效率的提高并不明显。 2 非胶片成像设备性能评价指标 国内外有关 X 射线非胶片成像技术的标准基本上都是一种方法标准，对设 备、人员、关键技术指标等都有明确规定。这些指标的制定依据是力争使非胶片 成像技术产生的透照图像接近或达到普通胶片成像的影像质量，虽然在细节上有 许多不同，但涉及图像质量的主要技术指标要求的内容是一致的。 2.1 相对灵敏度 检测灵敏度决定设备对物体中缺陷的检出能力，一般用百分比（%）表示。 百分比越低，灵敏度越高。在国外一般使用阶梯孔型像质计测定，国内使用线性 像质计进行测量。二者的测试结果不能完全等效，似乎国外的测量方法更加科学