原子力显微镜,AFM STM的局限 *STM只能用于导电材料,绝缘体也须在 样品表面镀上导电层 *测量的是电子云分布 原 AFM (atomic force microscopy) 结构原理同STM,也可用于绝缘体 通过测量探针与样品之间的原子力来探 测表面构型,通常保持原子力为一常 数,记录探针位置 AFM操纵使铁原子在Cu(11)面上排 列成“原子”字样! htp:m10.1070.68人 jochen晶体结构的实验观测http://10.107.0.68/~jgche/ 晶体结构的实验观测 19 原子力显微镜，AFM • STM的局限 * STM只能用于导电材料，绝缘体也须在 样品表面镀上导电层 * 测量的是电子云分布 • AFM (atomic force microscopy) * 结构原理同STM，也可用于绝缘体 * 通过测量探针与样品之间的原子力来探 测表面构型，通常保持原子力为一常 数，记录探针位置 • AFM操纵使铁原子在Cu(111)面上排 列成“原子”字样！