、实验仪器及设备 、数字逻辑实验箱1台 2、元器件 74LS08(二输入端四与门)、74LS32(二输入端四或门)、74LS04(六反相器)、 74LS00(二输入端四与非门)、74LS20(四输入端二与非门)、74LS86(二输入端 四异或门)、CD4002(四输入端二或非门)各1片;导线若干 四、实验内容 1.测试74LS08(二输入端四与门)的逻辑功能 (1)熟悉74LS08二输入端四与门管脚排列外引线分布如图a所示。 (2)测试与门逻辑功能:将74LS08芯片正确插入面包板,并注意识别第1脚位 置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。在74LS08芯片中选一个 与门,如由123脚组成,将两输入端(1脚和2脚)用导线与数字逻辑实验箱的 逻辑开关相连,输出端(3脚)接发光二极管,7脚接地线,14脚接+5V电源。 当输出端为高电平时,发光二极管亮;当输出端为低电平时,发光二极管不亮。 输入不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表 2.测试74LS32(二输入端四或门)的逻辑功能 (1)熟悉74LS32二输入端四或门管脚排列外引线分布如图d所示。 (2)测试或门逻辑功能:将74LS32正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集 成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。在74LS32芯片中选一个或门 输入端通过逻辑开关接髙、低电平,输出端接发光二极管。输入不同的信号组合, 记录相应的输出逻辑电平,填入表 3.测试74LS04(六反相器)的逻辑功能 (1)熟悉74LS04六反相器的管脚排列外引线分布如图a所示 (2)测试74LS04(六反相器)的逻辑功能。将74LS04正确插入面包板,并注 意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。在74LS04 中选一个非门,输入端通过逻辑开关接高、低电平,输出端接发光二极管。输入 不同的信号组合,记录相应的输出逻辑电平,填入表一。2 三、实验仪器及设备 1、数字逻辑实验箱 1 台 2、元器件： 74LS08（二输入端四与门）、74LS32（二输入端四或门）、74LS04（六反相器）、 74LS00（二输入端四与非门）、74LS20（四输入端二与非门）、74LS86（二输入端 四异或门）、CD4002（四输入端二或非门）各 1 片；导线若干 四、实验内容 1．测试 74LS08（二输入端四与门）的逻辑功能 （1）熟悉 74LS08 二输入端四与门管脚排列外引线分布如图 a 所示。 （2）测试与门逻辑功能：将 74LS08 芯片正确插入面包板，并注意识别第 1 脚位 置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第 1 脚）。在 74LS08 芯片中选一个 与门，如由 123 脚组成，将两输入端（1 脚和 2 脚）用导线与数字逻辑实验箱的 逻辑开关相连，输出端（3 脚）接发光二极管，7 脚接地线，14 脚接+5V 电源。 当输出端为高电平时，发光二极管亮；当输出端为低电平时，发光二极管不亮。 输入不同的信号组合，记录相应的输出逻辑电平，填入表一。 2．测试 74LS32（二输入端四或门）的逻辑功能 （1）熟悉 74LS32 二输入端四或门管脚排列外引线分布如图 d 所示。 （2）测试或门逻辑功能：将 74LS32 正确插入面包板，并注意识别第 1 脚位置（集 成块正面放置且缺口向左，则左下角为第 1 脚）。在 74LS32 芯片中选一个或门， 输入端通过逻辑开关接高、低电平，输出端接发光二极管。输入不同的信号组合， 记录相应的输出逻辑电平，填入表一。 3．测试 74LS04（六反相器）的逻辑功能 （1）熟悉 74LS04 六反相器的管脚排列外引线分布如图 a 所示。 （2）测试 74LS04（六反相器）的逻辑功能。将 74LS04 正确插入面包板，并注 意识别第 1 脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为第 1 脚）。在 74LS04 中选一个非门，输入端通过逻辑开关接高、低电平，输出端接发光二极管。输入 不同的信号组合，记录相应的输出逻辑电平，填入表一