材料微结构分析 金相分析 光学显微镜及制样技术 结构的形貌 仪器设备分辨限制 珠光体、渗碳体、马氏体、贝氏体等 晶粒尺寸/析出相/夹杂物尺寸与形态 X射线衍射分析(1895年，伦琴；1912年，美 1 mm 晶体结构及晶体对称性分析 相定性及定量分析 () 肉眼检测（宏观） 100um 晶体缺陷、晶粒尺寸分析 Kossel线技术 (晶体取向) 应力分析 (量)高液液 (房)奥水 群 X射线结构分析 (结构) 10um 一X射线形貌照象 织构分析 (晶体缺陷) (特征X射线成分分析、X射线荧光成分分析 光学显微镜 提 (显微组织) 透射电子显微镜分析纳米及原子尺度 lum 电子探针（成分） 扫描电镜（成分） 晶体结构及对称性 选区电子衍射 (结构与取向) 相分析、纳米析出相/夹杂物尺寸与形态 挺 H100um 微硬度测量 晶体缺陷（位错/层错/反相畴界） (机械性能) 表面和界面（晶界/相界/共格/非共格） 内应力、化学成分 传) 10nm 一扫描透射电镜 倒 电子结构分析、电荷密度分布 (成分) 扫描电镜 非晶结构中原子径向分布函数分析 (表面形貌) 点 是 1 nm 一光学干涉仪 内电场及磁场分布 的 (表面形貌) 一原子探针一场离子 扫描电子显微镜分析 爬 显微镜（结构、成分） 王 组织形态分析 报 10.Inm 二透射电镜 (显微组织) 化学成分 一扫描隧道显微镜 (表面形貌) 断口形貌 晶体位向、微织构 图1·10·3 材料中组织的尺度与检测仪器 晶界分布 分辨极限的对比图