113、XPS可提供的信息和功用 1.样品表面(1~12m)元素组成的定性和半定量测 定(误差<±10%); 2.表面或体相存在的污染(杂质)元素; 3.纯材料的实验式(无表面污染情况下); 4.样品中元素的化学态鉴别; 5.优异的化学信息和分子环境的信息(原子局域成 键状态、官能团、以及分子结构等信息); 6.详细的电子结构信息,电子态的结合能,电子态 密度,固体价电子能带结构和某些几何结构信息 7.各元素在表面分布均匀性(线扫描或化学成像) 8.样品内的元素深度分布均匀性(深度剖析)。 中国苧孜术大存 University ofscience and Technolegy or cbina1.1.3、XPS可提供的信息和功用 1. 样品表面(1~12 nm)元素组成的定性和半定量测 定(误差<±10%)； 2. 表面或体相存在的污染(杂质)元素； 3. 纯材料的实验式（无表面污染情况下）； 4. 样品中元素的化学态鉴别； 5. 优异的化学信息和分子环境的信息（原子局域成 键状态、官能团、以及分子结构等信息）； 6. 详细的电子结构信息，电子态的结合能，电子态 密度，固体价电子能带结构和某些几何结构信息； 7. 各元素在表面分布均匀性（线扫描或化学成像） 8. 样品内的元素深度分布均匀性（深度剖析）