实验一TTL门电路实验 一、 实验目的： L.熟悉TTL与非门、或非门的外形及管脚引线排列： 2.加深对门电路逻辑功能的认识： 3. 掌握门电路的使用方法。 二、 实验芯片： 74LS00一四二输入与非门 74LS02一四二输入或非门 2 VCC IY 3 1Y 2 4 0 GND GND 7400(4 2-Input NAND) 7402 (4 2-Input NOR) NAND gate truth table: NOR gate truth table A B I Y A B I Y 引用 图1 三、 实验内容 1.逻辑功能实验：按表1输入，测出输出电压值，并转变为逻辑值。 注：输入端悬空一输入逻辑“1” 输入端接地一输入逻辑“0” 1)与非门逻辑功能的测量：图2 2)或非门逻辑功能的测量：图4实验一 TTL 门电路实验 一、 实验目的： 1. 熟悉 TTL 与非门、或非门的外形及管脚引线排列； 2. 加深对门电路逻辑功能的认识； 3. 掌握门电路的使用方法。 二、 实验芯片： 74LS00 — 四二输入与非门 74LS02 — 四二输入或非门 图 1 三、 实验内容 1. 逻辑功能实验：按表 1 输入，测出输出电压值，并转变为逻辑值。 注：输入端悬空 — 输入逻辑“1” 输入端接地 — 输入逻辑“0” 1) 与非门逻辑功能的测量：图 2 2) 或非门逻辑功能的测量：图 4 3