扫描电镜(SEM) 1成像原理与与透射电镜完全不同。 ·2高能电子轰击样品表面。激发各种信息。 3.二次电子、透射电子、俄歇电子、Ⅹ射 线等。 4.不同的信息检测器。 5高真空状态。 6分辩率逊色于透射电镜数十倍扫描电镜（SEM） • 1.成像原理与与透射电镜完全不同。 • 2.高能电子轰击样品表面。激发各种信息。 • 3.二次电子、透射电子、俄歇电子、X射 线等。 • 4.不同的信息检测器。 • 5.高真空状态。 • 6.分辩率逊色于透射电镜数十倍