点击下载:电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第10章 电流测试
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● ●●0 常通故障(Stuck-On)例子 ●●● ●●●● As-a-0的测试矢量 pMOS 故障电路 Ippo路径 Stuck- short 好电路状态 0 (X) nMOS 有故障电路状态 2021/8/18 集成电路可测性设计 112021/8/18 集成电路可测性设计 11 常通故障( Stuck-On )例子 A B VDD C pMOS nMOS Stuckshort 1 0 0 (X) 好电路状态 有故障电路状态 A s-a-0的测试矢量 故障电路 IDDQ 路径
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