实验1：干涉测量法入门 实验仪器 基本干涉仪(OS-9255A) 干涉仪附件(OS-9256A) 激光器(0S-9171) 元件支架，偏振片(2)等 激光调整架(0S-9172) Component 实验目的 INTERFERONETER 用干涉仪测量光源波长和偏振状态。 ewing scree 实验原理 通常有两种方法使用干涉仪。如果光源的 Compensior 特性（如波长，偏振情况，光强）都己精确知 道，可以改变光程并分析由此对干涉条纹的影 响，实验2和实验3是这一类实验。另一方面 可由光程特性的变化获得所使用光源的信息。 在本实验中，使用干涉仪来测量光源的波 Adjustment Thumbscrews Adjustable miror 长。使用偏振片则可以查看光源的偏振状态。 Micrometer knob 实验内容 Figure 1.1.Michelson Mode Setup I。波长 1.按迈克耳逊方式安置激光器和干涉仪，使观察屏上干涉图案清晰可见，见“安装与操作”。 2.调整测微计旋钮至中间读数（约50μ），在这个位置上测微计读数与反射镜移动之间 的关系最接近线性。 3.逆时针旋转测微计旋钮一圈，继续逆时针旋转直到旋钮上的零刻度与读数刻线对齐，记 下此时测微计的初读数。 注意：当反向旋转测微计旋钮时，在反射镜开始移动之前有一小的读数，这称为机械回程间 隙，在所有机械系统反向移动时就会出现。先按逆时针方向转一圈，然后在条纹计数时只逆 时针旋转，这样就可以消除由于回程间隙而引起的误差。 4.调整观察屏的位置，使观察屏上毫米刻度的某一参考线与干涉图案中的一条条纹对齐， 选择图案中心之外的第一或第二条条纹作为参考，这样会使条纹计数容易。 5.逆时针缓慢旋转测微计，当条纹通过参考线时对条纹计数，数到预定的数目（至少20 个条纹)，当结束计数时条纹相对于参考线的位置必须与开始计数时相同，记下测微计 的最后读数。 6.测微计两次读数之差即是可移动反射镜向分束器移动的距离，记为dm。注意，测微计旋 钮上的每一小格刻度对应于反射镜移动1μm(10m)。 7.条纹计记为N。 8.多次重复实验内容3到7，记下每次的结果dm与N。 9.继续第二部分的内容，若还有时间，则按法布里-珀罗方式安装干涉仪，重复以上实验内 容3到8。 0实验 1：干涉测量法入门 实验仪器 基本干涉仪（OS-9255A） 激光器（OS-9171） 激光调整架（OS-9172） 干涉仪附件（OS-9256A） 元件支架，偏振片（2）等 实验目的 用干涉仪测量光源波长和偏振状态。 实验原理 通常有两种方法使用干涉仪。如果光源的 特性（如波长，偏振情况，光强）都已精确知 道，可以改变光程并分析由此对干涉条纹的影 响，实验 2 和实验 3 是这一类实验。另一方面 可由光程特性的变化获得所使用光源的信息。 在本实验中，使用干涉仪来测量光源的波 长。使用偏振片则可以查看光源的偏振状态。 实验内容 Ⅰ。波长 1． 按迈克耳逊方式安置激光器和干涉仪，使观察屏上干涉图案清晰可见，见“安装与操作”。 2． 调整测微计旋钮至中间读数（约 50μm），在这个位置上测微计读数与反射镜移动之间 的关系最接近线性。 3． 逆时针旋转测微计旋钮一圈，继续逆时针旋转直到旋钮上的零刻度与读数刻线对齐，记 下此时测微计的初读数。 注意：当反向旋转测微计旋钮时，在反射镜开始移动之前有一小的读数，这称为机械回程间 隙，在所有机械系统反向移动时就会出现。先按逆时针方向转一圈，然后在条纹计数时只逆 时针旋转，这样就可以消除由于回程间隙而引起的误差。 4． 调整观察屏的位置，使观察屏上毫米刻度的某一参考线与干涉图案中的一条条纹对齐， 选择图案中心之外的第一或第二条条纹作为参考，这样会使条纹计数容易。 5． 逆时针缓慢旋转测微计，当条纹通过参考线时对条纹计数，数到预定的数目（至少 20 个条纹），当结束计数时条纹相对于参考线的位置必须与开始计数时相同，记下测微计 的最后读数。 6． 测微计两次读数之差即是可移动反射镜向分束器移动的距离，记为dm。注意，测微计旋 钮上的每一小格刻度对应于反射镜移动 1μm（10-6 m）。 7． 条纹计记为 N。 8． 多次重复实验内容 3 到 7，记下每次的结果dm与N。 9． 继续第二部分的内容，若还有时间，则按法布里-珀罗方式安装干涉仪，重复以上实验内 容 3 到 8。 10