指令寄存器IR TAP状态 移位寄存器链 并行输出 测试逻辑复位 没定义 设置以发出IDCODE (或BYPASS)指 令 捕获指令寄存器 对LSB装载01*，可（选择）对 保持在先前状态 MSB装载专门设计的数据或固 定值 移位指令寄存器 向串行输出方向移位 保持在先前状态 指令寄存器退出1 保持在先前状态 保持在先前状态 指令寄存器退出2 指令寄存器暂停 刷新指令寄存器 保持在先前状态 从移位寄存器装载 所有其它状态 没定义 保持在先前状态 2020/9/5 集成电路可测性设计 182020/9/5 集成电路可测性设计 18 指令寄存器IR TAP状态 移位寄存器链 并行输出 测试逻辑复位 没定义 设置以发出IDCODE （或BYPASS）指 令 捕获指令寄存器 对LSB装载01*，可（选择）对 MSB装载专门设计的数据或固 定值 保持在先前状态 移位指令寄存器 向串行输出方向移位 保持在先前状态 指令寄存器退出1 指令寄存器退出2 指令寄存器暂停 保持在先前状态 保持在先前状态 刷新指令寄存器 保持在先前状态 从移位寄存器装载 所有其它状态 没定义 保持在先前状态