在DTA试验中,把两个接点分别插在样品与参 比物之中,它们之间的温度差的变化是由于相 转变或反应的吸热或放热效应引起的。如相 转变、熔化、结晶结构的转变、沸腾、升华、 蒸发、脱氢、裂解或分解反应、氧化或还原反 应、晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说 来,相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸 热效应;而结晶、氧化和一些分解反应产生放 热效应。测量电动势(电压),可知温差, 进一步可知热效应的出现与否及强度。在DTA试验中，把两个接点分别插在样品与参 比物之中，它们之间的温度差的变化是由于相 转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相 转变、熔化、结晶结构的转变、沸腾、升华、 蒸发、脱氢、裂解或分解反应、氧化或还原反 应、晶格结构的破坏和其它化学反应。一般说 来，相转变、脱氢还原和一些分解反应产生吸 热效应；而结晶、氧化和一些分解反应产生放 热效应。测量电动势（电压）， 可知温差， 进一步可知热效应的出现与否及强度