3.2标准的目的 使测试指令和测试数据串行施加到被测元件(CUT) -可读出测试结果 可采用RUNBIST命令 >避免外测试下太多的移位 冬JTAG可应用于芯片级，PCB,&系统级 冬在测试时，可进行三态信号控制 。来自其它芯片收集CUT的响应 ·从元件分别测试系统互连 冬从连线分别测试元件 2020/9/5 集成电路可测性设计 123.2 标准的目的  使测试指令和测试数据串行施加到被测元件(CUT)  可读出测试结果  可采用RUNBIST 命令 避免外测试下太多的移位  JTAG 可应用于芯片级, PCB, &系统级  在测试时, 可进行三态信号控制  来自其它芯片收集CUT的响应  从元件分别测试系统互连  从连线分别测试元件 2020/9/5 集成电路可测性设计 12