7.1基本原理 I= KAhyNe-E/kT 谱线强度的影响因素: A.激发电位E(要求)升高,谱线强度降低。 B.跃迁几率A增大,谱线强度增强。 C.并度(与K有关)增大,谱线强度增强 D.激发温度T(要求)升高,谱线强度增强。 E.基态原子数№増多,谱线强度增强 (定量基础)。7.1 基本原理 I = KAhN0e -E/kT 谱线强度的影响因素： A.激发电位E（要求）升高，谱线强度降低。 B.跃迁几率A增大，谱线强度增强。 C.简并度(与K有关）增大，谱线强度增强。 D.激发温度T（要求）升高，谱线强度增强。 E.基态原子数N0增多，谱线强度增强 （定量基础）