电子元器件的失效规律A■ y 早期失效 损耗失效 偶然失效 早期失效:失效率高,实效率随时间增加而下降,由特定的普 遍性原因造成 偶然失效:失效率低,良好使用阶段,失效是由不太严重的偶 然因素引起 损耗失效:失效率明显上升,大部分器件相继失效,失效是由 带全局性的原因引起(老化、磨损、耗损、疲劳等)造成 器件的设计、制造应使其尽快进入偶然失效期,推迟损耗 失效期的到来电子元器件的失效规律 • 早期失效：失效率高，实效率随时间增加而下降，由特定的普 遍性原因造成 • 偶然失效：失效率低，良好使用阶段，失效是由不太严重的偶 然因素引起 • 损耗失效：失效率明显上升，大部分器件相继失效，失效是由 带全局性的原因引起（老化、磨损、耗损、疲劳等）造成 器件的设计、制造应使其尽快进入偶然失效期，推迟损耗 失效期的到来