电子元器件的失效分析 设计 芯片 晶片 半导体加工制造过程切割、封装 产生问题C 报 使用过程 失效分析 器件失效后,通过对其结构、使用和技术文件的系统研究,鉴别失 效模式、确定失效原因、机理和失效演变的过程电子元器件的失效分析 器件失效后，通过对其结构、使用和技术文件的系统研究，鉴别失 效模式、确定失效原因、机理和失效演变的过程