18-6如何利用选区电子衍射花样来确定组织形貌中的晶体学方向 特征平面的取向分析特征平面是指片状第二相、惯习面、层错面、滑移面、孪晶面等平面。特征平面的取向 分析（即测定特征平面的指数）是透射电镜分析工作中经常遇到的一项工作。利用透射电镜测定特征平面的指 数，其根据是选区衍射花样与选区内组织形貌的微区对应性。 基本要点为：使用双倾台或旋转台倾转样品，使特征平面平行于入射束方向，在此位向下获得的衍射花样中 将出现该特征平面的衍射斑点。把这个位向下拍照的形貌像和相应的选区衍射花样对照，经磁转角校正后， 即可确定特征平面的指数。 其具体操作步骤如下： 1)利用双倾台倾转样品，使特征平面处于与入射束平行的方向。 2)拍照包含有特征平面的形貌像，以及该视场的选区电子衍射花样。 3)标定选区电子衍射花样，经磁转角校正后，将特征平面在形貌像中的迹线画在衍射花样中。 4)由透射斑点作迹线的垂线，该垂线所通过的衍射斑点的指数即为特征平面的指数。18-6 如何利用选区电子衍射花样来确定组织形貌中的晶体学方向 特征平面的取向分析 特征平面是指片状第二相、惯习面、层错面、滑移面、孪晶面等平面。特征平面的取向 分析(即测定特征平面的指数)是透射电镜分析工作中经常遇到的一项工作。利用透射电镜测定特征平面的指 数，其根据是选区衍射花样与选区内组织形貌的微区对应性。 基本要点为：使用双倾台或旋转台倾转样品，使特征平面平行于入射束方向，在此位向下获得的衍射花样中 将出现该特征平面的衍射斑点。把这个位向下拍照的形貌像和相应的选区衍射花样对照，经磁转角校正后， 即可确定特征平面的指数。 其具体操作步骤如下： 1) 利用双倾台倾转样品，使特征平面处于与入射束平行的方向。 2) 拍照包含有特征平面的形貌像，以及该视场的选区电子衍射花样。 3) 标定选区电子衍射花样，经磁转角校正后，将特征平面在形貌像中的迹线画在衍射花样中。 4) 由透射斑点作迹线的垂线，该垂线所通过的衍射斑点的指数即为特征平面的指数