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X射线谱仪一波长色散谱仪 晶体(C)沿着固定的导臂(平行于被检测的X射线出射方 向)滑动,同时绕垂直于聚焦圆(罗兰圆)平面的轴转动 以改变日角;而检测器(D)沿另一可以绕晶体的转动轴摆 动的导臂滑动。聚焦圆的半径R在这种结构方式下是固定 的,但其圆心则沿以发射源(S)为圆心、R为半径的圆 周上运动。通过简单的几何推导可获得发射源至晶体的距 离L与X射线特征波长λ之间的关系: L/2 sin0L=2Rsin日 R 由此可见,R是定值,对于给定的分光晶体,d也是定值, L与λ之间存在着简单的线性关系。L叫做谱仪长度,L值 由小变大,意味着被检测的X射线波长入由短变长。X射线谱仪-波长色散谱仪 晶体(C)沿着固定的导臂(平行于被检测的X射线出射方 向)滑动,同时绕垂直于聚焦圆(罗兰圆)平面的轴转动 以改变θ角;而检测器(D)沿另一可以绕晶体的转动轴摆 动的导臂滑动。聚焦圆的半径R在这种结构方式下是固定 的,但其圆心则沿以发射源(S)为圆心、R为半径的圆 周上运动。通过简单的几何推导可获得发射源至晶体的距 离L与X射线特征波长λ之间的关系: 由此可见,R是定值,对于给定的分光晶体,d也是定值, L与λ之间存在着简单的线性关系。L叫做谱仪长度,L值 由小变大,意味着被检测的X射线波长λ由短变长。 2 sin R L R λ d         θ /2 =sin L R  
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