点击下载:电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第11章 存储器测试
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●●● ●● ●●●● 内容提要 ●●0● ●●o● ① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法 2021/8/18 集成电路可测性设计 32021/8/18 集成电路可测性设计 3 内容提要 ① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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