点击下载:上海交通大学:《材料组织结构表征》课程教学资源(课件讲义)绪论、第一章 组织结构表征前言 Microstructural Characterization of Materials
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绪论 因为M.Rudenberg在1931年6月28日向德、 法、美等国的专利局提出用磁透镜或静电 透镜制造电子显微镜的专利申请,在专利 中第一次出现电子显微镜这个名词,并分 别于1932年12月和1936年10月获得法、美 专利局的批准。绪 论 因为M.Rudenberg 在1931年6月28日向德、 法、美等国的专利局提出用磁透镜或静电 透镜制造电子显微镜的专利申请,在专利 中第一次出现电子显微镜这个名词,并分 别于1932年12月和1936年10月获得法、美 专利局的批准
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