点击下载:电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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生产测试 目的:用以确定制造的产品是否达到设计参数要求, 也称为产品测试。 冬裸片测试(或探针测试)--中测 封装后测试。-一成测 2020/9/4 集成电路可测性设计 102020/9/4 集成电路可测性设计 10 生产测试 目的: 用以确定制造的产品是否达到设计参数要求, 也称为产品测试。 裸片测试(或探针测试)---中测 封装后测试。 ---成测
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